韓國 Micro Pioneer XRF -2000系列／熒光金屬鍍層測厚儀

韓國 Micro Pioneer XRF -2000系列／熒光金屬鍍層測厚儀

     Micro Pioneer XRF -2000系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能優(yōu)越，而且價錢超值只需數(shù)秒鐘，便能非般壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果其至是憲層層的樣品也一樣能勝任全目動 XYZ 褲品臺鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整超大／開放式的樣品臺，可測量較大的廣品是線路板，五金電鍍首飾子等行業(yè)的首冼可測量各類金屬層、合金層厚度。

可測元素范圍：

鈦（ Ti )﹣鈾（ U )

可測量厚度范圍：

原子序22-25,0.1-0.8um26-40,0.05-35um43-52,0.1-100um/2-82,0.05-5um×﹣射線管：油冷超微細(xì)對焦高壓：0-50KV（程控）

準(zhǔn)直器：

固定種類大小：可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動種類大小可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：1BM相容，17”顯示器

綜合性能：

鍍層分析：定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析：可分析單層鍍層雙層鍍層三層鍍層，合金鍍層

鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度鍍銅藥水的銅離子濃度等），簡單的核對方式無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液

定性定量分析：可定性分析20多種金屬元素并可定量分析成分含量．

光譜對比功能：可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別，從而控制來料的純度．

統(tǒng)計功能：能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計，方便有效的控制品質(zhì)．